MTZ-35是專門用于材料特性表征的阻抗分析儀,頻率范圍覆蓋10μHz-35 MHz 。
MTZ-35可以與HTF-1100高溫爐配合使用,以研究寬溫度范圍內(nèi)(室溫到1100
℃)的材料性質(zhì)。
建議兩個主要的樣品支架:HTSH-1100,用于高溫
;CESH
,用于環(huán)境溫度~ 150
℃(高)。
應(yīng)用:
- 環(huán)氧樹脂
- 液晶
- 鐵電體
- 生物細(xì)胞
- 極性液體
- 陶瓷
- 太陽能/光伏電池
- 傳感器
- 橡膠
- 聚合物
- 納米材料
利用阻抗圖譜計(jì)算介電常數(shù):
ω=2 π f f 為測得阻抗頻率值
電容C=1/( ω*z’’) z’’ 為測得阻抗虛部值
電容C=S*ε / 4π Kd K 為靜電常數(shù) 9E+09
介電常數(shù)ε=4π KdC/S d 為薄膜厚度
S 為薄膜面積
介電損耗D=1/tan θ Z’ 為測得阻抗實(shí)部值